電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

　　環(huán)境可靠性測(cè)試項(xiàng)目,電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)國(guó)測(cè)航天.

　　GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

　　GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

　　電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

　　電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)

　　電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

　　Electromagnetic compatibility----Testing and measurement techniques Electrical fast transient/burst immunity test

　　GB/T17626.4-1999

　　Idt IEC 61000-4-4:1994

　　1 范圍

　　本標(biāo)準(zhǔn)目的是為評(píng)估電氣和電子的供電電源端口,信號(hào)和控制端口在受到重復(fù)性快速瞬變干擾時(shí)的性能確定一個(gè)共同的能再現(xiàn)的評(píng)定依據(jù).

　　本試驗(yàn)是為了驗(yàn)證電氣和電子設(shè)備對(duì)諸如來(lái)自切換瞬態(tài)過(guò)程的各種類(lèi)型瞬變騷擾的抗擾度

　　2. 引用標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T4365-1995 電磁兼容術(shù)語(yǔ)

　　IEC68-1:1998 環(huán)境試驗(yàn) 第1部分 總則和導(dǎo)則

　　3. 概述

　　重復(fù)性快速瞬變?cè)囼?yàn)是一種將由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群耦合到電氣和電子設(shè)備的電源端口,信號(hào)和控制端口的試驗(yàn)

　　4 定義

　　4.1 EUT equipment under test

　　受試設(shè)備

　　4.2端口 port

　　受試設(shè)備的外部電磁環(huán)境的特殊接口

　　4.3 EFT/B electrical fast transient /burst

　　電快速瞬變脈沖群

　　4.4 耦合 coupling

　　線路間的相互作用,將能量從一個(gè)線路傳送到另一個(gè)線路

　　4.5 耦合網(wǎng)絡(luò) coupling network

　　用于將能量從一個(gè)線路傳送到另一個(gè)線路的電路

　　4.6 去耦網(wǎng)絡(luò) decoupling network

　　用于防止施加到受試設(shè)備上的電快速瞬變電壓影響其他不被試驗(yàn)的裝置,或系統(tǒng)的電路

　　4.7 耦合夾 coupling clamp

　　在與受試線路沒(méi)有任何電連接的情況下,以共模形式將干擾信號(hào)耦合到受試線路的.具有規(guī)定尺寸和特性的一種裝置

　　4.8 接地平面 ground plane

　　一塊導(dǎo)電平面,其電位用作公共參考電位

　　4.9 電磁兼容性 EMC

　　設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力

　　4.10 抗擾度 immunity (to disturbance)

　　裝置,設(shè)備或系統(tǒng)面臨電磁騷擾不降低運(yùn)行性能的能力

　　4.11 降低 degradation (of performance)

　　裝置,設(shè)備或系統(tǒng)的工作性能與正常性能的非期望偏差

　　4.12 瞬態(tài) transient

　　在兩相鄰穩(wěn)定狀態(tài)之間變化的物理量或物理現(xiàn)象,其變化時(shí)間小于所關(guān)注的時(shí)間尺度

　　4.13 上升時(shí)間 rise time

　　脈沖瞬時(shí)值首次達(dá)到10%峰值時(shí)與隨后達(dá)到90%峰值的瞬時(shí)之間的時(shí)間間隔

　　4.14 脈沖群 burst

　　一串?dāng)?shù)量有限的清晰脈沖或一個(gè)持續(xù)時(shí)間有的振蕩.

　　5 試驗(yàn)等級(jí)

　　表1中列出了對(duì)設(shè)備的供電電源,保護(hù)接地,信號(hào)的控制端口進(jìn)行電快速瞬變?cè)囼?yàn)時(shí)應(yīng)優(yōu)先采用的試驗(yàn)等級(jí)的范圍.

　　等級(jí) 在供電電源端口,保護(hù)接地 I/O信號(hào)數(shù)據(jù)和控制端口

　　電壓峰值KV 重復(fù)頻率KHZ 電壓峰值KV 重復(fù)頻率KHZ

　　1 05 5 0.25 5

　　2 1 5 0.5 5

　　3 2 5 1 5

　　4 4 2.5 2 5

　　* 特定 特定 特定 特定

　　6.試驗(yàn)設(shè)備

　　6.1試驗(yàn)發(fā)生器

　　試驗(yàn)發(fā)生器的主要元件:高壓源;充電電阻;儲(chǔ)能電容器;放電器;脈沖持續(xù)時(shí)間;成形電阻;

　　阻抗匹配電阻;隔直電容

　　6.1.1快速瞬變脈沖群發(fā)生器的性能和特性

　　開(kāi)路輸出電壓范圍:0.25KV~4KV

　　在接50歐負(fù)載時(shí)的運(yùn)行特性:

　　*能量:4mJ/脈沖

　　極性: 正負(fù)極性

　　輸出型式:同軸輸出

　　動(dòng)態(tài)源阻抗: 50歐

　　發(fā)生器的隔直電容:10nF

　　單個(gè)脈沖的上升時(shí)間:5ns

　　脈沖持續(xù)時(shí)間:50ns

　　脈沖群持續(xù)時(shí)間:15ms

　　脈沖群周期: 300ms

　　6.1.2 快速瞬變脈沖群發(fā)生器特性的校驗(yàn)

　　6.2 交/直流電源端口的耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)

　　特性參數(shù):

　　頻率范圍:1MHZ~100MHZ

　　耦合電容:33nF

　　耦合衰減:<2dB

　　在不對(duì)稱(chēng)條件下的去耦衰減:>20dbB

　　網(wǎng)絡(luò)中每條線路和其他線路之間的串?dāng)_衰減:>30dB

　　耦合電容的絕緣耐受能力:5KV

　　6.3 容性耦合夾

　　耦合夾能在與受試設(shè)備各端口的端子,電纜屏蔽層或受試設(shè)備的任何其他部分無(wú)任何電連接的情況下把快速瞬變脈沖群耦合到受試線路上

　　耦合夾的耦合電容取決于電纜的直徑,材料和屏蔽

　　該裝置由蓋住受試線路電纜的夾板組成,并且應(yīng)放置在面積最小為1m2的接地平面上,接地參考平面的周邊至少應(yīng)超出耦合夾0.1m

　　耦合夾的兩端應(yīng)具有高壓同軸接頭,其任一端均可與試驗(yàn)發(fā)生連接,發(fā)生器應(yīng)連接到耦合夾最接近受試設(shè)備的那一端.

　　7. 試驗(yàn)布置

　　7.1 試驗(yàn)設(shè)備

　　接地參考平面;耦合裝置;去耦網(wǎng)絡(luò);試驗(yàn)發(fā)生器

　　7.2 在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行型式試驗(yàn)的試驗(yàn)裝置

　　7.2.1 試驗(yàn)條件

　　受試設(shè)備應(yīng)該放在接地參考平面上,并用厚度為0.1m±0.01m的絕緣支座與之隔開(kāi)

　　若受試設(shè)備為臺(tái)式設(shè)備,則受試設(shè)備應(yīng)放置在接地參考平面上方0.8m±0.08m處

　　接地參考平面應(yīng)為一塊厚度不小于0.25mm的金屬板,也可以使用其他的金屬材料,但它們的厚度至少應(yīng)為0.65mm

　　接地平面的最小尺寸為1m*1m,其實(shí)際尺寸取決于受試設(shè)備的尺寸

　　接地參考平面的各邊至少應(yīng)比受試設(shè)備超過(guò)0.1m

　　接地參考平面應(yīng)與保護(hù)地相連接

　　除了位于受試設(shè)備下方的接地參考平面外,受試設(shè)備和所有其他導(dǎo)電性結(jié)構(gòu)之間的最

　　小距離應(yīng)大于0.5m

　　應(yīng)使用耦合裝置施加試驗(yàn)電壓,試驗(yàn)電壓應(yīng)耦合到受試設(shè)備和去耦網(wǎng)絡(luò)之間的線路上

　　或與試驗(yàn)試驗(yàn)有關(guān)的兩個(gè)設(shè)備之間的線路上

　　在使用耦合夾時(shí),除了位于耦合夾和受試設(shè)備下方的接地平面外,耦合板和所有其他導(dǎo)

　　電性結(jié)構(gòu)之間的最小距離是0.5m

　　耦合裝置和受度設(shè)備之間的信號(hào)線和電源線的長(zhǎng)度應(yīng)不大于1m

　　7.2.2 把試驗(yàn)電壓耦合到受試設(shè)備的方法

　　通過(guò)耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)直接耦合電快速瞬變脈沖群騷擾電壓

　　通過(guò)容性耦合夾把騷擾試驗(yàn)電壓施加到I/O端口和通信端口

　　7.3 安裝后試驗(yàn)的試驗(yàn)配置

　　7.3.1 對(duì)供電電源端子和保護(hù)接地端子的試驗(yàn)

　　7.3.2 對(duì)I/O和通信端口的試驗(yàn)

　　8.試驗(yàn)程序

　　8.1試驗(yàn)室參考條件

　　8.1.1氣候條件

　　-------環(huán)境溫度: 15℃~35℃

　　-------相對(duì)濕度: 25%~75%

　　-------大氣壓力: 86Kpa~106Kpa

　　8.2.1 電磁條件

　　實(shí)驗(yàn)室的電磁條件應(yīng)能保證EUT正常運(yùn)行,使試驗(yàn)結(jié)果不受影響

　　8.2 試驗(yàn)

　　應(yīng)根據(jù)試驗(yàn)計(jì)劃進(jìn)行試驗(yàn),包括對(duì)技術(shù)規(guī)范所規(guī)定的受試設(shè)備性能的檢驗(yàn)

　　試驗(yàn)計(jì)劃應(yīng)該規(guī)定以下內(nèi)容:

　　將要進(jìn)行的試驗(yàn)的類(lèi)型

　　試驗(yàn)等級(jí)

　　試驗(yàn)電壓的極性

　　內(nèi)部或外部發(fā)生器激勵(lì)

　　試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間,不少于1min

　　施加試驗(yàn)電壓的次數(shù)

　　待試驗(yàn)的受試設(shè)備端口

　　受試設(shè)備的典型工作條件

　　依次對(duì)受試設(shè)備各端口或?qū)ν瑢儆趦蓚€(gè)以上電路的電纜等施加試驗(yàn)電壓的順序

　　輔助設(shè)備

　　9 試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告