電磁兼容EMC測(cè)試說(shuō)明

　　EMC測(cè)試指南

　　一、EMI(電磁騷擾)分射頻和工頻兩類(lèi)測(cè)試

　　射頻類(lèi)測(cè)試項(xiàng)目：

　　1.1 射頻分傳導(dǎo)和輻射兩項(xiàng)測(cè)試

　　射頻傳導(dǎo)(屏蔽室測(cè)試)

　　1.1.1 傳導(dǎo)分電壓和功率兩項(xiàng)測(cè)試

　　1.1.2 傳導(dǎo)電壓標(biāo)準(zhǔn)：CISPR11、14、15、22

　　1.1.3 傳導(dǎo)功率標(biāo)準(zhǔn)：CISPR11、14

　　射頻輻射(電波暗室測(cè)試)

　　1.1.4 射頻輻射標(biāo)準(zhǔn)：CISPR11、22、IEC60571

　　工頻類(lèi)測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)

　　1.2 工頻分諧波和閃爍兩項(xiàng)測(cè)試

　　工頻諧波1.2.1 IEC6100-3-2

　　工頻閃爍1.2.2 IEC6100-3-3

　　二、EMS(電磁敏感度)分瞬變、射頻、低頻磁場(chǎng)、電源質(zhì)量

　　瞬變類(lèi)測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)

　　2.1 瞬變分靜電、瞬變脈沖和浪涌三項(xiàng)測(cè)試

　　瞬變靜電IEC6100-4-2

　　瞬變脈沖IEC6100-4-4

　　瞬變浪涌IEC6100-4-5

　　射頻類(lèi)項(xiàng)目

　　2.2 射頻分傳導(dǎo)和輻射兩項(xiàng)測(cè)試

　　射頻傳導(dǎo)IEC61004-6(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)

　　射頻輻射IEC6100-4-3(電波暗室測(cè)試)

　　低頻磁場(chǎng)類(lèi)測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)

　　2.3 低頻磁場(chǎng)分脈沖磁場(chǎng)和工頻磁場(chǎng)兩項(xiàng)測(cè)試

　　脈沖磁場(chǎng)IEC6100-4-9

　　工頻磁場(chǎng)IEC6100-4-8

　　電源質(zhì)量類(lèi)測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)

　　2.4分跌落、中斷、電壓變化三項(xiàng)測(cè)試

　　IEC6100-4-11

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